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X射线荧光光谱仪组成部分解析
  1、探测器
 
  依分辨率高低档次由低至高常用的探测器有NaI晶体闪烁计数器,充气(He,Ne,Ar,Kr,Xe等)正比计数管器、HgI2晶体的探测器、半导体致冷SiPIN探测器、高纯硅晶体的探测器、高纯锗晶体的探测器、电致冷或着液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体的探测器、Ge(Li)锂漂移锗探测器等。
 
  目前常用的是电致冷或液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体的探测器、SiPIN探测器、高纯的硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在对荧光探测的检出限、分辨率、探测能量范围的大小等方面。所以你要仪器的检出限好你就要看它了。
 
  低档探测器有效检测元素数量少,对被测物质中微量元素较难检测,分辨率一般在700-1100eV,一般可分析材料基体中元素数量较少,元素间相邻较远,含量较高的单个元素。
 
  中档探测器有效检测元素数量稍多,对痕量元素较难检测,分辨率一般在200-300eV,一般用于检测的对象元素不是相邻元素,元素相邻较远(至少相隔1-2个元素以上),基体内各元素间影响较小。
 
  高档探测器可以同时对不同浓度所有元素(一般从Na至U)进行检测,分辨率一般在150-180eV。可同时测定元素周期表中Na-U范围的任何元素。对痕量检测可达几个ppm量级。
 
  SiPIN探测器、高纯硅晶体探测器的分辨率一般是200eV–270eV,电致冷或液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体探测器的分辨率为140eV–165eV。电制冷不需要消耗液氮,但他制冷工艺复杂,价格也最贵,靠消耗电来制冷,分辨率比液氮稍逊,但也完全符合rohs检测的要求。液氮制冷需消耗液氮,使用起来不方便,但液氮的温度很低,操作者必须注意安全,但它的分辨率比电制冷稍好。这里我们还要看探测器的面积,探测器面积越大,效率越高。测试的时间就越短。市面上探测器面积有5—15mm2不等。很多X射线荧光光谱仪厂商都宣称他们的仪器测试时间是3分钟,是出一个可靠的数据3分钟吗,还是减少测试条件,具体指减少滤光片的转换次数和livetime来达到减少测试时间。的确很多XRF的测试时间能达到3分钟,但出的数据是很差的。只有极少数仪器能达到这个水平。测试时间对RoHS这个行业也是很重要的,因为很多厂家的需检测的产品比较多,一天可能有300多个,甚至更多。如果购买了了一台低效率的XRF,你可能要再买几个才能满足你的测试量。
 
  2、X光管
 
  X光管是仪器的易损耗材。大多数XRF厂商奉行拿来主义,做的就是组装贴个品牌的工作。其性能寿命和成本一般是5000小时合几百美金。而高档的X光管寿命一般在10年以上,成本当然也高达10多万人民币;SiLi电制冷的,寿命同样会在10年以上,成本至少15万人民币。
 
  3、处理器
 
  分为数字脉冲处理器和模拟脉冲处理器两种,前者在数据处理处理上速度好。全数字脉冲处理快线路处理,容许死时间高达60%。可采集大容量计数,可减少采集时间先进的数字与传统的模拟是两代处理器技术,技术水平一般差十年。模拟脉冲处理器一般信号处理模式,死时间仅容许30%。不能进行高通量信号处理,为获得大的计数必须延长采集时间。
 
  4、滤光片
 
  滤光片多,可以有选择的降低信噪比,对痕量分析十分有用。

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